數(shù)字IC測試儀產(chǎn)品簡介：

集成電路測定儀可對器件好壞判別，型號判別，老化測試，器件代換查詢，內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改，EPROM、EEPROM器件讀出寫入。
數(shù)字IC測試儀適用范圍：
1.維修電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
2.破譯被抹去型號集成電路的真實(shí)型號。
3.燒寫EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
4.開發(fā)電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
5.檢驗(yàn)新購器件的。
NICT-33C數(shù)字IC測試儀|集成電路測試儀功能特點(diǎn)：
1.器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時(shí)，儀器可判別其邏輯功能好壞。
2.器件型號識別：當(dāng)不知被測器件的型號時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
3.器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。
4.器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號。
5.內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。
6.微機(jī)通訊：儀器可通過串行口接受來自微機(jī)的數(shù)據(jù)。
7.ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
9.ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。
數(shù)字IC測試儀主要參數(shù)：
電源電壓：AC220V±15%，50HZ。
整機(jī)功耗：15VA。
測試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。
編程電壓：12.5V，21V。
測試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。
輸入位數(shù)：3——6位。
適用溫度：0——40℃。
測試規(guī)范：輸入短路測試；輸出短路測試；功能測試。
輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
數(shù)字IC測試儀主要構(gòu)成：
1.CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。
2.程序存儲器：128K  EPROM。
3.RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。
4.顯示器：8位液晶顯示器。
5.操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。
6.輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
7.機(jī)箱：塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。
數(shù)字IC測試儀隨機(jī)附件：
主機(jī)                                        1臺
產(chǎn)品說明書                            1本
器件測試板                    1塊
產(chǎn)品保修單                            1份
連接插針                                2根
通訊光盤                                1張
通訊電纜                                1根
電源線                                    1根