JKXT-VI硅材料測試儀_硅材料電阻率測試儀簡介：
硅材料電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業(yè)的硅料,硅棒硅塊硅片的電阻率型號測試。 
硅材料電阻率測試儀體積小，精度高，測量范圍寬，運用四探針原理能夠測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻。本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
硅材料測試儀特點：
適中的體積和便攜性，便攜式，使用9V供電。
操作簡單，測試快速。
同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。
硅材料電阻率測試儀采用220V交流電源供電硅材料綜合測試儀。
擁有較高的電阻率測試分辨率，小可到0.001 歐姆.厘米”。
能的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。
的P/N 型重摻告警設(shè)置，便于工廠大規(guī)?？焖龠x料。
具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，并能夠測試并顯示出電阻率的值。
預設(shè)樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
報警門限預設(shè)0-1.0，按0.1步進，0不報警
整機尺寸：92×140×24 mm
電阻率:0.01-50歐姆厘米
P/N型號:0.1歐姆厘米<電阻率<500歐姆厘米