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四探針測試儀 GSZ-RTS-4（SDY-4替代）用途
發(fā)布時(shí)間：2015-06-26瀏覽次數(shù)：1301返回列表
四探針測試儀/四探針電阻率測試儀/四探針檢測儀/單測四探針檢測儀(接電腦） 型號：GSZ-RTS-4（SDY-4替代）
GSZ-RTS-4型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
GSZ-RTS-4型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
技術(shù)參數(shù)：
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測量范圍
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電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴(kuò)展)； 方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴(kuò)展)； 電導(dǎo)率：0.005～1000 s/cm； 電阻：0.001～200Ω.cm； |
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可測晶片直徑
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140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； 200mmX200mm(配S-2B型測試臺)； 400mmX500mm(配S-2C型測試臺)； |
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恒流源
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電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào) |
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數(shù)字電壓表
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量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV； 輸入阻抗：>1000MΩ； 精度：±0.1% ； 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、超量程自動顯示； |
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四探針探頭基本指標(biāo)
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間距：1±0.01mm； 針間緣電阻：≥1000MΩ； 機(jī)械游移率：≤0.3%； 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓(總力)； |
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四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
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(見探頭附帶的合格證) |
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模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行) |
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
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整機(jī)測量大相對誤差
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(用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5% |
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整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度
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≤5% |
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計(jì)算機(jī)通訊接口
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并口 |
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標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
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溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65%； 無高頻干擾； 無強(qiáng)光直射； |
