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多維數(shù)字化測(cè)磁系統(tǒng) HAD-F-30

發(fā)布時(shí)間:2014-03-10瀏覽次數(shù):1441返回列表


多維數(shù)字化測(cè)磁系統(tǒng)    型號(hào);HAD-F-30

 多維數(shù)字化測(cè)磁系統(tǒng)

總述:多維自動(dòng)數(shù)字化測(cè)磁系統(tǒng)是我公司的具有高水平的自動(dòng)化數(shù)字化測(cè)磁平臺(tái),由多維數(shù)控微動(dòng)平臺(tái)及數(shù)位高斯計(jì)及控制采集系統(tǒng)軟件組成,可測(cè)試空間磁場(chǎng)分布,形狀磁體表磁立體分布,均勻性分布,多磁環(huán),N/S磁分布,電機(jī)磁場(chǎng)等諸多磁場(chǎng)特性測(cè)試,繪制圖形,存儲(chǔ)數(shù)據(jù)并保存打印。適用于磁性研究,已被外航天軍工及科研等眾多單位應(yīng)用。

特點(diǎn):

1、測(cè)試空間廣范:空間測(cè)試范圍4000mm x2000mm x2000mm(x,y,z),三維自由行程可選,并可附加旋轉(zhuǎn)自由度達(dá)到五維平臺(tái)。平移行程步進(jìn)細(xì)(分辨率0.00039mm)定位度0.01mm重復(fù)定位度<0.005 mm,旋轉(zhuǎn)行程角度分辨率<0.0002°,定位度0.01°重復(fù)定位度<0.005°,運(yùn)動(dòng)速度可2-64等細(xì)分。在物理空間上對(duì)測(cè)試空間實(shí)現(xiàn)細(xì)分布。

2、系統(tǒng)測(cè)試度高:使用數(shù)字化高斯計(jì)(一維或多維)并配有微型霍爾探頭(一維0.5mm,二維?1.2mm,三維?1.2mm)使空間與表磁測(cè)量具有高的性,可達(dá)到讀數(shù)的±0.05%±0.005量程。

3、自動(dòng)化數(shù)字化:系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制與數(shù)據(jù)采集,系統(tǒng)軟件可分多種形式測(cè)試流程,可直接輸入被測(cè)個(gè)面數(shù)據(jù)及細(xì)分等參數(shù)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試,數(shù)據(jù)自動(dòng)記錄.保存,可根據(jù)測(cè)試資料自動(dòng)生成一維,二維,三維的圖形及測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄,數(shù)據(jù)庫(kù)格式為Access格式并打印圖表。

4、靈活的組合方式:可將三維平移臺(tái)及旋轉(zhuǎn)臺(tái)以多種適合測(cè)試的方式進(jìn)行拼裝,來(lái)滿足不同測(cè)試的需要,系統(tǒng)軟件涵蓋了維的控制與采集,也可據(jù)要求擴(kuò)展需求,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化無(wú)人監(jiān)控測(cè)量。

5、高斯計(jì)經(jīng)計(jì)量科學(xué)研究院檢定,系統(tǒng)軟件經(jīng)軟件版權(quán)局注冊(cè)核準(zhǔn)

系統(tǒng)組成:
1、數(shù)控多維平臺(tái)(圖例)
(X ﹑Y﹑Z﹑θy ,θz
維度可選,平移行程與旋轉(zhuǎn)臺(tái)直徑可選
方向
可選行程(mm)
分辨率(mm)

X

100-2400
<0.01

Y

100-1600
<0.01

Z

100-1600 

<0.01
θy

360º

<0.01º
θz
360º
<0.01º
2、數(shù)字高斯計(jì)
型號(hào)
分辨力及量程
CH-3600(三維高斯計(jì))
10nT-10T  (30T)
讀數(shù)的±0.15%±0.005量程
CH-2100(二維高斯計(jì))
10nT-10T  (30T)
讀數(shù)的±0.15%±0.005量程
CH-1800(一維高斯計(jì))    
 
10nT-10T 
讀數(shù)的±0.05%±0.005量程
CH-1600(一維高斯計(jì))
 
100nT-3T

讀數(shù)的±0.20%±0.005量程

詳細(xì)參數(shù)參看本網(wǎng)站三維高斯計(jì)及數(shù)字高斯計(jì)(www.ch-hall.com
3、系統(tǒng)軟件
原理圖
 主顯示界面

此界面主要用于顯示測(cè)量多維磁場(chǎng)值、角度值,溫度、濕度,時(shí)間、測(cè)試物體品名,探頭型號(hào),工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)方式、運(yùn)行速度、工作臺(tái)實(shí)時(shí)位置等信息。其中,磁場(chǎng)值可以具體實(shí)現(xiàn)沿X、Y、Z軸三個(gè)方向的分量值,以及它們的向量值。

二維圖形

對(duì)于三維探頭來(lái)說(shuō),控制軟件可生成二維圖形:

Bx(X),Bx(Y),Bx(Z),BxZ);

By(X),By(Y),By(Z),ByZ);

Bz(X),Bz(Y),Bz(Z),BzZ);

Bx+y+z (X),Bx+y+z (Y),B x+y+z (Z),B x+y+zZ);

Bx+y+z為X,Y,Z三個(gè)分量的合成向量。

對(duì)于二維探頭(如X,Y(軸向)方向)來(lái)說(shuō),控制軟件可生成二維圖型

Bx(X),Bx(Y), Bx(Z),BxZ);

By(X),By(Y), By(Z),ByZ);

Bx+y(X),B x+y(Y), B x+y(Z),B x+yZ);

Bx+y為X,Y二個(gè)分量的合成向量。

對(duì)于一維探頭(如Y(為軸向) 方向)來(lái)說(shuō),控制軟件可生成二維圖形

By(X),By(Y), By(Z),ByZ)

如圖例,By(X) 二維圖形:

三維圖形

對(duì)于三維探頭來(lái)說(shuō),控制軟件可生成三維圖形:

Bx(X,Y),Bx(X,Z), Bx(Y, Z),BxZ,Z);

By(X,Y),By(X,Z), By(Y, Z),ByZ,Z);

Bz(X,Y),Bz(X,Z), Bz(Y, Z),BzZ,Z);

B x+y+z (X,Y),B x+y+z (X,Z), B x+y+z (Y,Z ),B x+y+z Z,Z);

B x+y+z為X,Y,Z三個(gè)分量的合成向量。

對(duì)于二維探頭(如X,Y(軸向)方向)來(lái)說(shuō),控制軟件可生成三維圖形:

Bx(X, Y),Bx(X, Z), Bx(Y, Z),BxZ, Z);

By(X, Y),By(X, Z), By(Y, Z),ByZ, Z);

Bx+y(X,Y),B x+y(X,Z), B x+y(Y,Z),B x+yZ,Z)

Bx+y為X,Y二個(gè)分量的合成向量。

對(duì)于一維探頭(如Y(為軸向) 方向)來(lái)說(shuō),可生成三維圖形:

By(X,Y),By(X,Z), By(Y,Z );By(θZ,Z)

如圖例,Bx(X,Y) 三維圖形:

 

界面示例

1)主控界面

版本一:

版本二: 

2)流程掃描控制界面

3)模式掃描控制界面

4)運(yùn)動(dòng)速度設(shè)定界面

版本一:

版本二:

5磁場(chǎng)測(cè)試信息界面

6)測(cè)試數(shù)據(jù)列表(查詢)

7)導(dǎo)出表格(存儲(chǔ),打?。?/strong>

8)圖形繪制界面

二維標(biāo)準(zhǔn)圖

二維顛倒圖

二維雷達(dá)圖(坐標(biāo)圖)

多磁環(huán)參數(shù)顯示

多曲線疊加比較

三維曲線圖(矩形)

三維網(wǎng)狀圖(矩形)

磁瓦網(wǎng)狀二維圖

磁瓦Bx方向磁場(chǎng)立體三維圖

兩電機(jī)(x,y)雙分量繪圖

磁環(huán)性繪圖

三維立體圖(矩形)

空間磁場(chǎng)立體繪圖(按位移量分繪圖,位移1mm

圓柱狀磁體三維立體圖1

圓柱狀磁體三維立體圖2

瓦狀磁體三維立體圖

圓面磁體三維立體圖

圓環(huán)(多磁環(huán))三維立體圖(俯視)

圓環(huán)(多磁環(huán))三維立體圖

多磁體立體對(duì)比圖

磁體空間磁場(chǎng)分布向量圖

雙磁場(chǎng)平面圖

對(duì)稱磁場(chǎng)圖

陣列磁場(chǎng)圖

圓柱體磁場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)圖例(電機(jī)類)

多維磁場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)例圖(小型)
4、計(jì)算機(jī)
可選用工控機(jī)或筆記本電腦等
5、打印機(jī)
可選用激光或彩色噴墨打印機(jī)
6、電控位移臺(tái)的支撐平臺(tái)及附件(型號(hào)可選)
電控位移臺(tái)的支撐平臺(tái)
電控位移臺(tái)的支撐平臺(tái)采用光學(xué)平臺(tái),其指標(biāo):
a) 臺(tái)面尺寸:1200mm×2400mm×200 mm;
b) 平臺(tái)高度:800mm;
c) 平面度:0.05mm/m2
d) 孔距:25 mm×25 mm;孔徑:M6;
e) 臺(tái)面材料:鐵磁不銹鋼Cr13,厚度8mm,烏光效果。
f) 內(nèi)芯采用鋼制峰窩支撐
測(cè)試探頭架
測(cè)試探頭架采用CY15多維探頭架和CY35探頭架。
⑶  樣品臺(tái)與支撐架
樣品臺(tái):非導(dǎo)磁材料、行程100mm,BS100-1
鋁支撐架600mm。

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