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非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀 HAD-JXNR
發(fā)布時間:2014-03-11瀏覽次數(shù):1763返回列表
非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀 型號:HAD-JXNR
一、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.非接觸測量硅半導(dǎo)體材料的電阻率
2.適合測試硅片,不損傷樣品表面。
3.采用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲、打印
4.軟件界面直觀友好
5.樣片校準(zhǔn)快速、方便
二、推薦工作條件
1. 溫度:23±2℃
2. 濕度:60%~70%
3. 無強(qiáng)光照、無強(qiáng)磁場、不與高頻設(shè)備鄰近
三、參數(shù)指標(biāo)
1.整機(jī)尺寸:340mm×260mm×150mm
2.電阻率量程:0.1~50Ω﹡㎝
3.誤差范圍:±5%
4.硅片厚度:適合150-600um厚度