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數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀 HAD-M-2
發(fā)布時間：2014-03-12瀏覽次數(shù)：1537返回列表
數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀
型號：HAD-M-2
一、結(jié)構(gòu)特征
如上圖二、概述
HAD-M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。
本測試儀可贈設(shè)電池供電，適合手持式變動場合操作！
儀器參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
三、基本參數(shù)
1.測量范圍、分辨率
電 阻： 1.0×10-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×10Ω
電 阻 率： 1.0×10-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10-2～ 0.1Ω-cm
方塊電阻： 1.0×10-1～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1～ 0.1×10Ω/□
2.可測半導(dǎo)體材料尺寸
直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3.量程劃分及誤差等
| 量程 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
|
kΩ-cm/□ |
Ω-cm/□ |
mΩ-cm/□ |
|||
| 基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | |||
4)適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5)外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg
