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手持式數(shù)字式四探針測試儀的使用說明
發(fā)布時(shí)間:2017-02-22瀏覽次數(shù):1828返回列表
手持式數(shù)字式四探針測試儀/手持式四探針測試儀/四探針電阻測試儀 型號:HADM-2
HADM-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。
主機(jī)主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,自動轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入;具有零位、滿度自校功能;全自動轉(zhuǎn)換量程;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配專用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見 表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ~ 9999Ω, 分辨率0.001 ~ 1 Ω
電 阻 率: 0.010~ 2000Ω-cm, 分辨率0.001 ~ 1 Ω-cm
方塊電阻: 0.050~ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ~ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定
直 徑:HAD/SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。
HAD/SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級
量程(Ω-cm/□) |
9.999
|
99.99
|
999.9
|
9999.
|
電阻測試范圍 |
0.010~9.999
|
9.99~99.99
|
99.99~999.9
|
999.9~9999
|
電阻率/方阻 |
0.010/0.050~9.999
|
9.99~99.99
|
99.99~999.9
|
999.9~2000
|
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重:≤0.5kg