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四探針電阻測試儀主機(jī)采用電路設(shè)計(jì)，所測數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點(diǎn)：體積大，速度慢，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）。本儀器電壓檔為自動(dòng)調(diào)整,電流檔為半自動(dòng).不清楚被測物體阻值時(shí),可按菜單先選擇100MA電流檔進(jìn)行自動(dòng)搜索(電流可由高至低自動(dòng)搜索,不能由低向高搜索),當(dāng)選擇好電流檔后,電壓會(huì)自動(dòng)進(jìn)行調(diào)整。關(guān)于四探針電阻測試儀，您需要知道這些：
 1、電阻率與方阻的概念 
電阻率：當(dāng)某種材料截成正方體時(shí)，平行對(duì)面間的電阻值只與材料的類別有關(guān)，而與正方形邊長無關(guān)，這種單位體積的阻值可以反映材料的導(dǎo)電特性，稱為電阻率（體電阻率），記為：ρ，標(biāo)準(zhǔn)單位：Ω-m，常用單位Ω-cm
方塊電阻：薄膜類導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料截成薄層正方形時(shí)，平行對(duì)邊間的電阻值只與材料的類別（電阻率）和厚度有關(guān)，而與正方形邊長無關(guān)，這種單位面積的對(duì)邊間的電阻值可反映薄膜的導(dǎo)電特性和厚度信息，稱為方塊電阻，簡稱方阻。記為：R □，標(biāo)準(zhǔn)單位：Ω/□
2、測試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
（1）GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
（2）SJT 10314-1992《直流四探針電阻率測試儀通用技術(shù)條件》
3、測試應(yīng)用范圍
數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。根據(jù)不同材料特性需要，配有多款測試探頭：
（1）高耐磨碳化鎢探針探頭，測量硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
（2）球形鍍金銅合金探針探頭，測量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻；
（3）配合四端子測試夾具，測量電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻；
（4）專用探頭可測試電池片等箔上涂層電阻率/方阻。