AFG31000 任意波形函數發(fā)生器

泰克 AFG31000 系列是全新智能型 AFG，它內置任意波形發(fā)生和實時波形監(jiān)測功能，并擁有市場上非常大的觸摸屏。全新 AFG31000 提供了高級波形生成和編程功能，支持波形監(jiān)測，擁有流行的觸摸屏界面，讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單，讓工作變得更輕松。任意波形函數發(fā)生器...

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任意波形函數發(fā)生器
任意波形函數發(fā)生器
任意波形函數發(fā)生器
泰克 AFG31000 系列是全新智能型 AFG，它內置任意波形發(fā)生和實時波形監(jiān)測功能，并擁有市場上非常大的觸摸屏。全新 AFG31000 提供了高級波形生成和編程功能，支持波形監(jiān)測，擁有流行的觸摸屏界面，讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單，讓工作變得更輕松。

主要性能指標
單或雙通道型號
輸出幅度范圍 1mVP-P ~ 10VP-P 至 50? 負載
基本 (AFG) 模式:
25 MHz, 50MHz, 100MHz, 150MHz, 或 250MHz 正弦波形
250 MSa/s, 1GSa/s 或 2GSa/s 采樣率
14 位垂直分辨率
內置波形包括正弦、方波、鋸齒波、脈沖、噪聲和其他常用波形
掃描、突發(fā)和調制模式 (AM, FM, PM, FSK 和 PWM)
高級 (序列) 模式:
連續(xù)模式 (選配序列模式、已觸發(fā)模式和選通模式)
每條通道上 16Mpts 任意波形內存 (128Mpts 選配)
序列模式下最多 256 步，支持循環(huán)、跳轉和等待事件
可變采樣時鐘 1μSa/s ~ 2GSa/s
主要功能
憑借InstaView? 技術，工程師可以實時查看被測器件 (DUT) 上的實際波形，而不需使用示波器和探頭，降低了因阻抗不匹配引起的不確定度
波形序列選項可以對復雜的長波形編程，支持最多 256 步
9 英寸容性觸摸屏的操作與智能類似，為常用設置提供了快捷方式
內置 ArbBuilder 可以在儀器上創(chuàng)建和編輯任意波形，而不需要連接電腦
可以防止輸出發(fā)生過壓和過流，最大限度地降低儀器損壞的潛在風險
兼容 TekBench? 軟件，在實驗室中幫助學生設置、控制和分析測試結果
應用
高級研究
時鐘和系統(tǒng)同步
復現(xiàn)真實世界信號
元器件和電路表征和驗證
嵌入式電路設計和測試
通用信號生成
基本模式和高級模式
AFG31000 系列是一個擁有全功能基本模式(AFG)和高級(序列)模式的任意波函數發(fā)生器。

在基本模式下，AFG31000 生成傳統(tǒng)函數和任意波形。觸摸屏和前面板控制功能可以簡便地進行設置。

基本模式可以改變頻率，而不用擔心波形長度和采樣率。這種功能既適合表征濾波器/放大器頻響的模擬設計，也適合時鐘速率經常變化的數字設計。

可以一目了然地查看關鍵設置，并使用觸控、數碼鍵盤或旋轉控件簡便地進行調節(jié)。

高級模式是 AFG31000 中提供的新模式，可以生成多個復雜定時的波形。在這種模式下，您可以編寫一個由 1~256 個波形組成的列表(或序列)，總波形長度可達 16Mpts/ch (128Mpts/ch 選配)，并定義這些波形的輸出序列。支持重復、轉到、等待、跳轉和已觸發(fā)事件，大容量內存可以存儲許多波形或長波形。

這種功能特別適合需要順序執(zhí)行多個測試用例的應用。您不用逐個加載測試用例，而是可以把所有測試用例放到一個序列中，一次性加載這些測試用例，然后從一個測試用例無縫切換到另一個測試用例，大大提高測試效率。
高級模式可以使用靈活的步進控制功能，構建復雜的波形序列
排序后的正弦波形，擁有不同的頻率和幅度。

此外，高級模式采用了可變采樣率技術。波形中的每個樣點輸出一次，且在每個周期中只輸出一次，與采樣率同步。由于沒有跳躍或重復，所以保留了波形中的所有細節(jié)。這種功能特別適合對信號保真度要求高的應用，比如 IQ 調制和脈沖串生成。

InstaView? 技術可實時監(jiān)測 DUT 上的實際波形
大多數波形發(fā)生器默認被測器件的阻抗是 50 ?。但是，大多數被測器件的阻抗并不是 50 ?。這種不匹配會導致 AFG 上設置的波形與 DUT 上的實際信號不一致。

在關閉 InstaView 后，AFG31000 的工作方式與傳統(tǒng)函數發(fā)生器一樣。由于阻抗不匹配，AFG 顯示屏上顯示的波形與 DUT 上觀察到的波形是不一樣的。

憑借InstaView ?技術，AFG31000 系列可以顯示 DUT 上的實際波形，而不是 AFG 上設置的標稱波形。AFG 上顯示的波形會對 DUT 上的頻率、幅度、波形形狀和阻抗變化瞬時做出反應。InstaView 幫助大大降低了因阻抗不匹配導致的不確定度和測量風險，而不要求額外的電纜、儀器或工作


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