標(biāo)準(zhǔn)（費(fèi)氏法）要求的平均粒度測(cè)試儀

發(fā)布時(shí)間：2015-01-24瀏覽次數(shù)：1400返回列表

　　平均粒度測(cè)試儀/平均粒度檢測(cè)儀型號(hào)：DP-WLP-209

　　DP-WLP-209型平均粒度測(cè)試儀根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)(費(fèi)氏法)要求，在對(duì)被測(cè)粉末試樣施壓時(shí)，采用了LTDK型可設(shè)定空轉(zhuǎn)式扭矩起子，(非同其他儀器所使用無(wú)科學(xué)依據(jù)的壓力校正器)。采用LTDK型扭矩起子，可使任何操作人員在對(duì)粉末測(cè)試過(guò)程中均可達(dá)到相同的壓制力，地得到同一種佳孔隙度，消除了人為誤差，使被測(cè)粉末粒徑更加準(zhǔn)確，同時(shí)本儀器配有雙向擴(kuò)展讀數(shù)板，孔隙度范圍由原來(lái)的0.80—0.40(擴(kuò)到0.95—0.80、擴(kuò)到0.40—0.25)，滿足了各種粉末測(cè)試需求。

　　指標(biāo)：

　　1、精度：±3%

　　2、測(cè)試范圍： 0.2-50 μ m (微米)

　　檔： 0.2-20 μ m

　　第二檔： 20-50 μ m

　　3.孔隙度范圍：0.95-0.80

　　0.80-0.40

　　0.40-0.25

　　4、準(zhǔn)確度：±3%

　　5、環(huán)境濕度：相對(duì)濕度 ≤80%

　　6、環(huán)境溫度： 25 ± 10 ℃

　　7、電源：～220 ± 22V 50赫茲

　　8、功率： 25W

　　9、重量： 18kg

　　10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3

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