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發(fā)布緊急求購 |
價格:電議
所在地:北京
型號:6400
更新時間:2024-09-10
瀏覽次數(shù):2001
公司地址:北京市海淀區(qū)蘇州街18號長遠天地大廈A2座711室
劉崢(先生)
英國ABI-6400電路板故障檢測儀產(chǎn)品突出特征:
1)產(chǎn)品體積小,重量輕,USB接口,適合攜帶
數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格 | |
測試通道數(shù): | 64通道(可擴展到256通道) |
總線隔離信號信道數(shù): | 4通道or 8通道 |
實時比對功能: | 需有二個64通道, 或128通道 |
輸出驅(qū)動電壓: | TTL/CMOS 標準 |
輸出驅(qū)動電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
一般H-L 80mA @ 0.6V | |
一般 L-H 200mA @ 2V | |
Max. 400mA | |
驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/µs |
電壓范圍: | +/-10V |
輸入阻抗: | 10k |
邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
驅(qū)動邏輯形態(tài): | Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
過電壓保護范圍: | <0.5V, >5.5V |
長測試時間: | 根據(jù)被測元器件而定 |
測試方式: | 在線及離線測試 (需外接離線測試盒) |
電源供給規(guī)格參數(shù) | |
自動供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道) | |
過電壓保護: | 7V |
過電流保護: | 7A |
測試模式 | |
單次(Single): | 單次測試 |
循環(huán)(Loop): | 反復(fù)測試, 或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
自動掃描測試: | 可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
zui小調(diào)整解析: | 100mV |
低信號位準Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
轉(zhuǎn)態(tài)位準Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
CMOS 1.0V to 3.0V | |
高信號位準High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V | |
掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
CMOS 2.5V | |
掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V |
測試功能及參數(shù) | |
集成電路功能測試 | 根據(jù)測試庫的功能進行測試,根據(jù)元件的原理和真值表進行測試 |
元器件連接特性測試 | |
短路狀態(tài)偵測 Short circuit detection | |
懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測 Floating input detection | |
開路狀態(tài)偵測 Open circuit detection | |
連接狀態(tài)偵測 |
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電壓量測Voltage: | zui小解析 10mV 范圍 +/-10V |
具邏輯狀態(tài)偵測 Logic state detection | |
VI曲線測試: | 測試通道數(shù)64 – 256(擴展) |
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電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V (可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對稱電壓掃描 |
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zui大測試電流 1mA |
曲線拐點系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
6400電路板故障檢測儀配件 |
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標準配件 |
離線測試測試盒 |
1 x 64 way test cable (64通道測試線) |
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1 x 64 way split test cable (2X32通道測試線) |
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1 x V-I probe assembly (V-I曲線測試探棒) |
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1 x BDO cable (隔離通道信號測試線) |
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1 x Short locator cable (短路電阻測試探棒) |
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1 x Ground clip (接地信號夾) |
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1 x PSU lead set (電源輸出線) |
通訊及機箱 | |
內(nèi)置通訊接口 | PCI interface (通訊接口) |
外置通訊接口及機箱 | Multi |
External case (選購) 可升級到 5個安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 (USB.通訊端口). |
組件數(shù)據(jù)庫 | |
可測試元器件種類: | TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義 |
可測試元器件封裝類型: | DIL, SOIC, PLCC, QFP,用戶可以自己配置測試夾和轉(zhuǎn)接座 |