英國(guó)abi BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)概述：
可提供全品種的專業(yè)級(jí)電路板測(cè)試、電路板檢測(cè)的多功能電路板故障診斷系統(tǒng)。由硬件測(cè)試平臺(tái)、可編程軟件測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試夾具（含夾具、治具）組成。硬件測(cè)試平臺(tái)由測(cè)試單元組成，可根據(jù)測(cè)試要求擴(kuò)充測(cè)試單元進(jìn)而擴(kuò)充系統(tǒng)的測(cè)試功能和測(cè)試通道。軟件測(cè)試平臺(tái)可以通過(guò)代碼和非代碼編程方式完成測(cè)試程序編程，實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程的所有數(shù)據(jù)和步驟的存檔保留，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)軟件自動(dòng)化測(cè)試，提高排查故障的準(zhǔn)確率和系統(tǒng)的測(cè)試效率。
一、
英國(guó)abi BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)構(gòu)成：
系統(tǒng)構(gòu)成概述：
1.系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)：（各個(gè)測(cè)試單元可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充測(cè)試模塊以達(dá)到需要的測(cè)試通道）
1)多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元（數(shù)字電路測(cè)試單元）：可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；
2)模擬集成電路測(cè)試單元（模擬器件測(cè)試單元）；
3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；
4)三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元（動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元）可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；
5)可編程程控電源單元：可根據(jù)測(cè)試需要擴(kuò)充電源通道
6)硬件測(cè)試框架；
2.可編輯軟件測(cè)試平臺(tái)：
1)非代碼編程：測(cè)試流程管理，形成流程化、標(biāo)準(zhǔn)化、信息化的測(cè)試程序；
2)代碼編程：自動(dòng)化、半自動(dòng)化電路板整板測(cè)試，實(shí)現(xiàn)電路板批量化測(cè)試、電路板生產(chǎn)檢驗(yàn)測(cè)試、電路板一致性分析測(cè)試。
3.測(cè)試夾具：
1)測(cè)試夾具：日常手工測(cè)試所需要的夾具；
2)治具：電路板整板測(cè)試的專用測(cè)試工裝（定制：包括：針床、專用接口板等）
（一）BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)硬件測(cè)試平臺(tái)功能：
1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試單元（數(shù)字電路測(cè)試單元）：可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道；單元由ABI-6500模塊*2組成
1)128通道（可擴(kuò)充至2048通道）
2)數(shù)字器件功能測(cè)試，管腳電壓，管腳連接狀態(tài)，溫度拐點(diǎn)系數(shù)，數(shù)字V-I測(cè)試
3)邏輯時(shí)序發(fā)生器
4)電路板故障查找功能
5)短路追蹤（通斷測(cè)量）
6)未知型號(hào)器件的判別
2.模擬集成電路測(cè)試單元（模擬器件測(cè)試單元）;單元由ABI-2500模塊*1組成
1)模擬器件V-I曲線測(cè)試，矩陣測(cè)試；
2)24路測(cè)試通道，2通道探筆測(cè)試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測(cè)試通道；
3)各種器件的V-I, V-T, I-T曲線測(cè)試；
4)模擬集成電路及分立器件測(cè)試功能。
3.三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元（動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試單元）可擴(kuò)充：2048路測(cè)試通道;單元由ABI-3400模塊*1組成
1)規(guī)格：64路測(cè)試通道+4路探棒測(cè)試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測(cè)試模式；
2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測(cè)試；
3)矩陣測(cè)試:對(duì)所有管腳間的V-I（阻抗）曲線測(cè)試
4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值；
5)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048路測(cè)試通道。
4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）;單元由ABI-6350模塊*1組成
規(guī)格：集成8種常用測(cè)試儀器于一體；
1)3通道數(shù)字示波器；
2)2通道任意波形發(fā)生器；
3)2通道數(shù)字電壓表；
4)1通道數(shù)字電流表；
5)1通道數(shù)字電阻表；
6)1通道頻率計(jì)；
7)8通道通用I/O接口；
8)4路固定輸出電源。
5.可編程程控電源單元;單元由ABI-1200模塊*1組成
1)規(guī)格：三路可調(diào)輸出，可串并聯(lián)；
2)通道完全隔離；
3)每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax
4)具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)
5)遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測(cè)補(bǔ)償功能
6.硬件測(cè)試框架：英國(guó)原產(chǎn)19英寸機(jī)架式含計(jì)算機(jī)（可以安裝六組模塊）
（二）可編程軟件測(cè)試平臺(tái)功能
中英文軟件，可通過(guò)編程軟件對(duì)所有模塊進(jìn)行操作控制
1.具有測(cè)試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試流程編輯和記錄功能）
2.測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過(guò)程，使電路測(cè)試過(guò)程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、 測(cè)試流程）?？梢园凑諟y(cè)試要求，保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。保證了測(cè)試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化、工藝化。
3.記錄各種測(cè)試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測(cè)量到的管腳電壓、連接關(guān)系、功能測(cè)試結(jié)果等 信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲(chǔ)記錄到測(cè)試流程中，方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對(duì)比，大大簡(jiǎn)化了測(cè)試中需要重復(fù)對(duì)比的工作。
4.軟件在測(cè)試流程中允許用戶加入對(duì)測(cè)試步驟的文字說(shuō)明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁(yè)鏈接、視頻等，大提升了測(cè)試效率。
5.圖形化測(cè)試庫(kù)編輯器，圖形化定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試記錄輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立元器件與電路板測(cè)試庫(kù)，元器件與整板測(cè)試庫(kù)擴(kuò)充簡(jiǎn)單、快捷. 非專業(yè)人員可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)。
6.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告可以包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶專有的測(cè)試報(bào)告，方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。
7.*中文、英文測(cè)試操作軟件，中文軟件漢化到各級(jí)菜單（完整漢化版），提供終生軟件的升級(jí)服務(wù)；
8.智能化編程，通過(guò)TFL編輯器，可對(duì)測(cè)試的每個(gè)步驟進(jìn)行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個(gè)編程命令。
（三）測(cè)試夾具功能
1.測(cè)試夾具附件，包括：DIL等各種器件測(cè)試夾具1套（日常手工測(cè)試所需要的夾具）；
2.治具需要定制服務(wù)：電路板整板測(cè)試的專用測(cè)試工裝（包括：針床、專用接口板等）；
3.可選配件：SOIC測(cè)試夾具、離線測(cè)試盒、分立器件測(cè)試探筆套裝等。
二、BM-8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)功能特點(diǎn)
1.*硬件系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)要求擴(kuò)充測(cè)試模塊和測(cè)試通道。
2.*軟件系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程流程化設(shè)計(jì)，可以通過(guò)非編程方式實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程流程化：保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。以后的測(cè)試就
3.按照流程步驟進(jìn)行測(cè)試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對(duì)比報(bào)告。測(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過(guò)程，并不斷完善測(cè)試流程。實(shí)時(shí)將測(cè)試經(jīng)驗(yàn)、測(cè)試信息擴(kuò)充到測(cè)試流程工藝中。完成了流程化設(shè)計(jì)的電路板可以實(shí)現(xiàn)人工快速、半自動(dòng)化故障排查及板級(jí)系統(tǒng)測(cè)試，提高排故和測(cè)試效率。
4.*測(cè)試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測(cè)報(bào)告。系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以根據(jù)需要定制生成自定義測(cè)試報(bào)告。測(cè)試報(bào)告包含用戶關(guān)注的測(cè)試數(shù)據(jù)與測(cè)試結(jié)果。生成用戶專有的測(cè)試報(bào)告，方便測(cè)試數(shù)據(jù)的保存。
5.*多電源數(shù)字電路測(cè)試模塊具備64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試（可擴(kuò)充到2048通道），每個(gè)通道可以根據(jù)需要分別定義為：輸入/電壓測(cè)量、輸出/信號(hào)驅(qū)動(dòng)或V/I曲線測(cè)量；可進(jìn)行自定義測(cè)試，器件與整板的自定義仿真測(cè)試。
6.*具備閾值電平臨界點(diǎn)掃描測(cè)試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。
7.系統(tǒng)可對(duì)各種器件進(jìn)行端口測(cè)試： V-I、V-T、V-I-F測(cè)試.二維V-I測(cè)試低達(dá)1Hz頻率，三維測(cè)試頻率高達(dá)到10kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件?？稍O(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試。
8.變頻三維立體V-I-F測(cè)量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板，三維立體圖形測(cè)量測(cè)量方式，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測(cè)試。
9.*系統(tǒng)各個(gè)模塊在同一個(gè)專業(yè)平臺(tái)操控下同時(shí)運(yùn)行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試并生成自定義測(cè)試報(bào)告。
10.*集成8種測(cè)試儀器于一體：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、1通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規(guī)測(cè)試儀器可以并發(fā)操作，所有步驟過(guò)程可以記錄存儲(chǔ)并可對(duì)比，所有測(cè)試數(shù)據(jù)可以量化，并可以形成測(cè)試報(bào)告，可對(duì)電路板進(jìn)行仿真測(cè)試、調(diào)試測(cè)試、一致性測(cè)試等整板測(cè)試。
11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統(tǒng)軟件來(lái)控制，三個(gè)通道可以支持串并聯(lián)以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應(yīng)器模塊可根據(jù)流程設(shè)計(jì)，自動(dòng)開(kāi)啟和關(guān)閉測(cè)試所需的電源。電源配合其他模塊使用，可實(shí)現(xiàn)整板測(cè)試與多電源測(cè)試的流程自動(dòng)化。
12.多達(dá)上萬(wàn)種的數(shù)字器件測(cè)試庫(kù)，測(cè)試器件庫(kù)涵蓋常用的器件。也可以通過(guò)圖形化器件編輯器快速擴(kuò)充與自定義器件測(cè)試庫(kù)。可以通過(guò)圖形化器件編輯器定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速批量建立元器件和整板測(cè)試庫(kù)。
13.系統(tǒng)含有模擬器件測(cè)試庫(kù)，可對(duì)放大器、比較器、二管、三管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試。 可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試等。
14.系統(tǒng)可對(duì)各種器件進(jìn)行端口測(cè)試：V-I、V-T、I-T測(cè)試。測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.
三、BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)單元模塊特點(diǎn)
1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試的測(cè)試模塊(ABI-6500)
該模塊具有64個(gè)測(cè)量通道,可提供多種的測(cè)量功能。這些通道可提供性故障診斷能力，包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路管腳的連接狀態(tài)和電壓值的測(cè)量,以及在非加電情況下使用的V-I曲線測(cè)試功能，是數(shù)字集成電路測(cè)試的測(cè)試模塊。系統(tǒng)提供的信息更、更準(zhǔn)確、測(cè)試條件更豐富。仿真測(cè)試輸入電壓可以根據(jù)需要-10V～+10V之間自己定義，檢測(cè)輸出的電平閾值也可以自己定義。ABI-6500模塊可以更好的檢測(cè)測(cè)試庫(kù)以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測(cè)試更加方便快捷。
2.模擬電路測(cè)試功能模塊(ABI-2500)
在模擬集成電路測(cè)試模塊中允許對(duì)模擬集成電路和分立器件進(jìn)行功能測(cè)試。所有常見(jiàn)的模擬集成電路皆可以測(cè)試，系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)進(jìn)行功能測(cè)試,不需要編輯程序或參考電路圖。在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測(cè)試功能，電路板或集成電路可在非加電的情況下，得到清楚易懂的圖形化測(cè)試結(jié)果.。ABI-2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測(cè)試庫(kù)。
3.三維立體矩陣式V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗混合電路測(cè)試模塊（ABI-3400）
規(guī)格：64通道，創(chuàng)三維立體V-I-F測(cè)試，適合檢測(cè)與頻率相關(guān)的器件特性，強(qiáng)大的矩陣式測(cè)試，測(cè)試通道可擴(kuò)展(以64通道步進(jìn)擴(kuò)展，高達(dá)2048通道)，獨(dú)特的同步脈沖測(cè)試模式，可制定標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程及步驟。
4.八合一多功能儀表模塊(ABI-6350)
在八合一多功能儀表模塊中，提供了多種高規(guī)格的測(cè)試及測(cè)量用的儀表功能在同一模塊之中。此種設(shè)計(jì)方式適合用于教育及一般用途的電子測(cè)量使用。其模塊提供了八種常用儀表功能：3通道數(shù)字示波器、2通道任意波形發(fā)生器、2通道數(shù)字電壓表、1通道數(shù)字電流表、1通道數(shù)字電阻表、4通道頻率計(jì)、8通道通用I/O接口、4路輔助電源.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺(tái)功能,來(lái)設(shè)計(jì)定制化的儀器操作接口。
5.系統(tǒng)專用可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1200)
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測(cè)試時(shí)所必要的電源。其具有三組可調(diào)式隔離電源輸出,三個(gè)通道支持串并聯(lián)，遠(yuǎn)端電壓監(jiān)測(cè)補(bǔ)償，并同時(shí)具有過(guò)電壓及過(guò)流保護(hù)功能。
四、
英國(guó)abi BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)單元模塊主要技術(shù)指標(biāo)
1.多電源數(shù)字集成電路測(cè)試模塊: (6500模塊*1個(gè))
1.1測(cè)試通道數(shù) : 64測(cè)試通道（可擴(kuò)至2048通道）
1.2具有數(shù)字V-I曲線測(cè)試功能，64路測(cè)試通道（可擴(kuò)至2048通道）
1.3總線隔離信號(hào)通道：8通道（4邏輯高+4邏輯低）
1.4可設(shè)定輸出的邏輯信號(hào)電平范圍 : -10V ～ +10VDC
1.5具自動(dòng)掃描目前工作的數(shù)字邏輯電平閾值功能
1.6邏輯時(shí)序發(fā)生器：64通道（可擴(kuò)至2048通道），模式數(shù) 999個(gè)/通道
1.7 64個(gè)通道可以獨(dú)自定義為：輸入（測(cè)量）和輸出（驅(qū)動(dòng)），輸出信號(hào)范圍：-10V～+10V，輸入信號(hào)范圍：+20V ～ -20VDC
2.模擬電路測(cè)試模塊：(2500模塊)
2.1 V-I測(cè)試性能
測(cè)量通道：2路探棒通道，2路同步脈沖信號(hào)通道，24路測(cè)試夾具通道，3路分立器件測(cè)試通道；
V-I曲線測(cè)試掃描電壓范圍：2～50Vp-p；
V-I曲線測(cè)試掃描頻率范圍：37.5Hz～12kHz；
V-I曲線測(cè)試阻抗范圍：100Ω～1MΩ；
V-I曲線測(cè)試信號(hào)波形：正弦波、三角波、斜波；
顯示曲線模式：V-I、V-T、I-T；
測(cè)試方式：學(xué)習(xí)對(duì)比、探棒實(shí)時(shí)對(duì)比、矩陣測(cè)試；
同步脈沖信號(hào)幅度：-10V～+10V；
同步脈沖輸出模式：正脈沖、負(fù)脈沖、雙向脈沖、DC；
2.2模擬集成電路及分離組件測(cè)試功能
測(cè)量通道數(shù)：24個(gè)測(cè)試通道；
驅(qū)動(dòng)輸出電壓：-12V～+12V；
驅(qū)動(dòng)輸出電流：200mA；
可量測(cè)輸入電壓：±24V；
IC測(cè)試封裝型態(tài)：OP放大器、比較器、DACs、ADCs；
IC測(cè)試方式：在線測(cè)試, 若OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av)；
晶體管測(cè)試能力：晶體管、FET、TRIACS、THYRISTOR；
3.系統(tǒng)專用可調(diào)式電源供給模塊功能: (1200模塊)
電源供應(yīng)輸出控制可由軟件來(lái)手動(dòng)控制開(kāi)關(guān)；
3通道完全；
每通道：0～40VDC max, 0～8A max, 40W max；
支持串并聯(lián)，以便增加電壓和電流供應(yīng)；
4.八合一多功能儀表模塊性能：(6350模塊)
4.1數(shù)字儲(chǔ)存示波器
測(cè)試通道：3路測(cè)試通道；
帶寬：100MHz；
采樣速率：500MS/s (25GS/s ERS 模式)；
輸入阻抗：1MΩ；
4.2函數(shù)信號(hào)產(chǎn)生器：
測(cè)試通道：2通道；
輸出波形：DC、正弦波、方波、三角波、正脈沖、負(fù)脈沖；
輸出頻率范圍：0.5Hz～25MHz；
輸出阻抗：50?；
4.3通用 I/O：
通道數(shù)：8路通用I/O通道；
信道模式：電壓輸出、電壓輸入；
提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL邏輯電平的預(yù)設(shè)值；
4.4電壓表
測(cè)量通道：2通道；
直流電壓測(cè)量范圍：0～±500V；
交流電壓測(cè)量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～500V；
顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；
4.5電流表：
測(cè)量通道：1通道；
直流電流測(cè)量范圍：0～±10A；
交流電流測(cè)量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～10A；
顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；
4.6電阻表：
測(cè)量通道：1通道；
測(cè)量范圍：0～10MΩ；
連續(xù)性：0Ω～ 1kΩ，分辨率：100mΩ；
二管：測(cè)量范圍：0V～2V；分辨率：100μV；測(cè)試電流：1mA；
顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；
4.7頻率計(jì)數(shù)器
測(cè)量通道：1路專用通道+3路DSO共用通道；
頻率測(cè)量范圍：專用通道：1MHz～800MHz；DSO通道：2Hz～100MHz；
輸入阻抗：專用通道：50Ω；DSO通道：1MΩ；
電壓輸入范圍：專用通道：±3.3V；DSO通道：±40mV～±8V。；
4.8輔助電源:
電壓輸出：+5V,+3.3V,+12V,-12V；
電流限制：+5V/1A；+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA；
5.三維立體矩陣式V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗混合電路測(cè)試模塊 (3400模塊*1個(gè))
5.1測(cè)試通道：4路探棒通道，4路同步脈沖通道，64路夾具測(cè)試通道；
5.2 V-I曲線掃描電壓范圍：2～50Vp-p（2、5、10、20、50Vp-p）；
5.3 V-I曲線掃描頻率設(shè)定范圍：1Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）；
5.4 V-I曲線測(cè)試阻抗范圍：100Ω～1MΩ（100、1k、10k、100k、1MΩ）；
5.5 三維 V-I-F曲線掃描頻率范圍：10Hz～10kHz（可以1Hz為步進(jìn)設(shè)定）；
5.6 顯示曲線模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；
5.7 測(cè)試方式：存儲(chǔ)對(duì)比、探棒實(shí)時(shí)對(duì)比、矩陣測(cè)試；
5.8 同步脈沖輸出設(shè)定：?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；
5.9 同步脈沖信號(hào)幅度：-10V～+10V，調(diào)整分辨率0.01V；
五、BM8600電路板故障檢測(cè)儀系統(tǒng)主要
1.模塊化設(shè)計(jì)：可以自由擴(kuò)充，任意拆分，可以滿足不同客戶的需求。模塊化設(shè)計(jì)，可以將整機(jī)拆分、組合成小儀器使用
2.軟件具測(cè)試流程記憶功能
ABI的BM-8600采用嶄新的測(cè)試?yán)砟睿瑴y(cè)試流程的制定貫穿整個(gè)測(cè)試過(guò)程，使電路測(cè)試的過(guò)程形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程（維修流程、生產(chǎn)流程、檢測(cè)流程）。
可以按照測(cè)試要求，保存流程測(cè)試的所有步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試流程。
以后的測(cè)試就按照標(biāo)準(zhǔn)的流程按步驟進(jìn)行測(cè)試，得出相應(yīng)的結(jié)果，并形成數(shù)據(jù)對(duì)比報(bào)告。
保證了測(cè)試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。半熟練的工程人員只需要按部就班的依指示及圖示來(lái)操作設(shè)備，便可以完成所有的檢測(cè)工作。使測(cè)試簡(jiǎn)單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。
BM8600內(nèi)圖2
3.對(duì)電路板和集成電路可同時(shí)進(jìn)行多種并發(fā)測(cè)試操作。
包括功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試，連接狀態(tài)測(cè)試，管腳電壓測(cè)試。并且提供的測(cè)試結(jié)果信息，測(cè)試效率大大提高。
1）可同一時(shí)間完成多種測(cè)試，該測(cè)試提供信息，節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
2）測(cè)試項(xiàng)目：集成電路的功能測(cè)試、V-I曲線測(cè)量、曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)、各個(gè)管腳電壓值測(cè)量、管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示。
BM8600內(nèi)圖3
4.圖形化編輯元件測(cè)試庫(kù)和整板測(cè)試庫(kù)
采用圖形化編程，方便以后擴(kuò)充元件庫(kù)和電路板庫(kù)，方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù)。
圖形化元件測(cè)試庫(kù)編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯，方便快捷建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù)。
整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單，通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)信號(hào)及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立板測(cè)試庫(kù)，快速批量檢測(cè)電路板的功能。
BM8600內(nèi)圖4
5.可測(cè)試拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)
V-I曲線測(cè)試,可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
BM8600內(nèi)圖5
6.具短路電阻測(cè)量功能
短路電阻測(cè)量功能：
三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,檢查短路點(diǎn)，可判定線路阻抗及通斷情況。
BM8600內(nèi)圖6
7.可邏輯電平閾值自動(dòng)掃描
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤.
1)邏輯電平閾值自定義。可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
2)邏輯電平閾值可以自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值臨界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤。
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描：邏輯高低電平是一個(gè)范圍，該種方法是確定集成電路在板系統(tǒng)中能通過(guò)的電平具體數(shù)值，該數(shù)值能反映出集成電路驅(qū)動(dòng)能力的下降問(wèn)題，方便查找驅(qū)動(dòng)能力下降的器件。
BM8600內(nèi)圖7
8.特有的V-T模式可測(cè)量器件的開(kāi)關(guān)時(shí)間特性（配合同步脈沖）
?可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.
?測(cè)試時(shí)將設(shè)定好的方波同步到測(cè)試信號(hào)中，可以觀測(cè)到三端器件開(kāi)關(guān)時(shí)間特性的差異，圖中是高頻狀態(tài)，器件的開(kāi)關(guān)時(shí)間參數(shù)出現(xiàn)問(wèn)題，圖中的差異體現(xiàn)了開(kāi)關(guān)時(shí)間的問(wèn)題。
BM8600內(nèi)圖8
9.V-I曲線矩陣測(cè)試
分別以每個(gè)管腳為公共端進(jìn)行V-I測(cè)試，可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試發(fā)現(xiàn)管腳間的阻抗差異，使測(cè)量的信息更準(zhǔn)確。
BM8600內(nèi)圖9
10.具有分立器件功能測(cè)試
1）模擬集成電路測(cè)試功能：可對(duì)模擬放大器、比較器、二管、三管、晶閘管、場(chǎng)效應(yīng)管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管場(chǎng)效應(yīng)晶體管場(chǎng)效應(yīng)晶體管光耦器件、AD/DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)試.
2）可以對(duì)模擬器件的參數(shù)指標(biāo)值進(jìn)行在線測(cè)量：放大倍率 (AV) CTR值 (電流轉(zhuǎn)換比) 、Vled (內(nèi)部光二管的導(dǎo)通電壓值、Hfe值 (晶體的電流放大倍率)等參數(shù)值。
BM8600內(nèi)圖10
11.獨(dú)有的波套設(shè)計(jì)
八合一多功能儀表6350-示波器特有功能-波套
?信號(hào)波形通過(guò)對(duì)比
BM8600內(nèi)圖11
12.將波形保存成測(cè)試步驟（生成測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)）
BM8600內(nèi)圖12
13.變頻三維立體V-I-F測(cè)量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或電路板。
BM8600內(nèi)圖13
14.動(dòng)態(tài)阻抗分析功能，可以對(duì)圖形進(jìn)行電壓、電流參數(shù)的測(cè)量
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