F20-XT 膜厚測試儀,膜厚儀，薄膜測厚儀

北京銳峰先科技術(shù)有限公司是一家致力于為中國廣大客戶提供先進的半導體設(shè)備、SMT設(shè)備、LCD設(shè)備、易耗品、元器件和完善售后服務(wù)的供應(yīng)商。公司代理一些全球著名的相關(guān)產(chǎn)品；擁有一批經(jīng)驗豐富的銷售和技術(shù)服務(wù)團隊，并在北京，上海，深圳，西安等地，均有辦事處為客戶提供一系列的產(chǎn)品及技術(shù)服務(wù)。


公司一貫堅持：

“yi流的產(chǎn)品；yi流的服務(wù)；yi流的合作關(guān)系”的經(jīng)營理念；
“顧客滿意，共同發(fā)展”的經(jīng)營目標；
“至誠至信，至新至美”的公司精神；
“團隊合作，以人為本”的核心價值。

通過長期的不懈努力，我們已與很多重要客戶：如一些全球著名半導體芯片制造商像因特爾，三星，富士康，Stataschippac，Bosch，ST，華為，比亞迪等等，以及國內(nèi)一些重大研究院校等等都建立了長期合作的關(guān)系。公司將繼續(xù)按照市場經(jīng)濟的規(guī)則要求，不斷地發(fā)展和擴大。真誠地希望為廣大客戶提供更多、更好的服務(wù)；與更多的供應(yīng)廠商建立更為廣泛和緊密的合作關(guān)系,共同為業(yè)界的繁榮與發(fā)展作出貢獻.

F20-XT經(jīng)濟型高級膜厚測試儀,膜厚儀，薄膜測厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務(wù)）

主要用于測試各種透明半透明的膜厚.

產(chǎn)品簡介：

1  是在F20-NIR的基礎(chǔ)上專為測試厚膜而設(shè)計的，波長范圍從1200nm到1450nm，在NIR波長分辨率為 0.5nm；
2  薄膜厚度的測量范圍是：0.2～ 450um（低光學參數(shù)薄膜），0.1～160um（Si及其它半導體），精度都好于0.4%。

應(yīng)用領(lǐng)域 :

1  微機電系統(tǒng)MEMS；
2  絕緣體上硅SOI；
3  倒裝芯片F(xiàn)lip Chips；
4  厚聚合物 。