L303K/C L303K/C 射頻導納物位開關

特 性lL303K/C 型電子線路采用了美國斯盧森抗粘附電路，可以在探測真實物位的同時，消除粘附和懸掛在探頭周圍的假物位信號影響。

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 特   性

l L303K/C 型電子線路采用了美國斯盧森抗粘附電路，可以在探測真實物位的同時，消除粘附和懸掛在探頭周圍的假物位信號影響。

原    理

L303K/C是基于射頻（RF）電容技術，將一個無線電頻率施加在探頭上，通過連續(xù)的分析，確定周圍環(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數，而且其導電率都不同于空氣，當探頭與材料接觸時由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。因為通電的探頭和容器壁構成電容器的二塊板，探頭的緣體和周圍空氣成為介電材料，當空氣（介電常數為1.0）被任何其它材料（介電常數＞1）置換時，電容值的變化造成了阻抗的變化。這一影響被電路測量后，再與由靈敏度設置建立的參考基準相比較。

應    用

L303K/C型能用于高溫、高壓環(huán)境，液體、粉體、大固體塊料及腐蝕性物體，可檢測原油、精煉油、汽油、導電泥漿、水泥、煤粉、石灰等工藝物料。

技術參數

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