美國KIC爐溫測(cè)試儀KICK2 美國KIC爐溫測(cè)試儀KICK2

爐溫測(cè)試儀█爐溫跟蹤儀█KIC爐溫測(cè)試儀█WICKON爐溫測(cè)試儀█DATAPAQ爐溫測(cè)試儀kic是上zui大的溫度測(cè)試儀器及相關(guān)附件制造商之一，KIC擁有6至12通道爐溫測(cè)試儀，蘇州三奧電子有限公司為你提供KIC爐溫測(cè)試儀所有型號(hào)以及配件。

溫度曲線測(cè)試為簡(jiǎn)便，任何人都可以勝任
簡(jiǎn)化溫度曲線測(cè)試步驟
通過自動(dòng)化的過程來簡(jiǎn)化復(fù)雜的工藝制程設(shè)置工作，KIC爐溫測(cè)試儀使得溫度曲線測(cè)試變得異常簡(jiǎn)單，任何操作員都可以快速取得工藝制程。只需從包含百種常用焊錫膏供應(yīng)商的溫度曲線規(guī)范自動(dòng)定義制程窗口,色碼信號(hào)會(huì)在不符合時(shí)向操作員發(fā)出警報(bào)。
加快溫度曲線的測(cè)試過程
KIC爐溫測(cè)試儀采用了創(chuàng)新技術(shù)（已申請(qǐng)），可消除用傳統(tǒng)方法來測(cè)量溫度曲線時(shí)需要執(zhí)行的繁瑣任務(wù)，回流焊爐各區(qū)域以及熱電偶對(duì)產(chǎn)品的測(cè)量均實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化?？杉磿r(shí)確定工藝制程曲線的可接受性，減少所需溫度曲線測(cè)試次數(shù)，并zui大限的減少生產(chǎn)停機(jī)時(shí)間。
溫度曲線測(cè)試更
KIC爐溫測(cè)試儀可將工藝制程簡(jiǎn)化為一個(gè)數(shù)字—Process window indexTM (PWI),這樣您就能地了解溫度曲線的完善程度。簡(jiǎn)化后的用戶界面能引導(dǎo)操作員完成整個(gè)溫度曲線測(cè)試過程，zui大限度的減少錯(cuò)誤的回流焊爐的溫度設(shè)定和影響產(chǎn)量的各種缺陷。
溫度曲線測(cè)試更輕松
即使是為復(fù)雜的產(chǎn)品和要求，KIC爐溫測(cè)試儀也能使制程設(shè)定毫不費(fèi)力，包括無鉛規(guī)定所造成的狹窄工藝制程窗口，消除溫度曲線測(cè)試過程中無鉛過渡帶來的麻煩，同時(shí)提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
KIC NavigatorTM
KIC NavigatorTM導(dǎo)航器選件能自動(dòng)的靶子陳設(shè)自由化。請(qǐng)參閱KIC NavigatorTM
數(shù)據(jù)表，獲取更多信息。

kic各型號(hào)爐溫測(cè)試儀及規(guī)格：

X5-智能型測(cè)試儀

1、全新Profiling Software 軟件平臺(tái)。
2、標(biāo)配 曲線合并 功能，采用自動(dòng)化比較技術(shù)，避免人工比對(duì)存在疏漏。
3、標(biāo)配 SPC&Cpk;，采用自動(dòng)化SPC界限圖，以及Cpk能力的計(jì)算。
4、標(biāo)配 工藝曲線優(yōu)化，自動(dòng)預(yù)定溫度的設(shè)置功能(Navigator Power-Key)

工藝曲線優(yōu)化模式：（無需實(shí)際測(cè)試）

• ·優(yōu)化工藝（工藝中心）又或手工改變溫度，預(yù)測(cè)工藝變化結(jié)果。

• ·快速度（生產(chǎn)速度）又或手工改變速度，預(yù)測(cè)工藝變化結(jié)果。

• ·zui低電耗（zui小電量）又或手工改變溫度和速度，預(yù)測(cè)工藝變化結(jié)果。

X5主要技術(shù)參數(shù):

K2-調(diào)溫型測(cè)試儀

新一代調(diào)溫型測(cè)試儀

1、新一代調(diào)整溫型測(cè)試儀用于替代老版本系列。
2、優(yōu)越的。

體積小、耐用的硬件結(jié)構(gòu)：

1、適合各種無鉛的過爐條件要求。。
2、7通道k2尺寸：

3、9通道k2尺寸：

4、耐用的硬件、兼容各種測(cè)試條件。

防呆與智能的技術(shù)

自動(dòng)審查與分析溫度曲線

電腦和移動(dòng)終端，雙向獲取溫度數(shù)據(jù)技術(shù)(可選）：

瀏覽溫度數(shù)據(jù)的方法:

• · 安裝測(cè)試程序的電腦。

• · 授權(quán)的安卓移動(dòng)終端設(shè)備。

• · 具有共享選定曲線數(shù)據(jù)的功能

The Process Window Index

統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理，表示溫度曲線的合格率：
PWI即工藝窗口指數(shù)，利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理，對(duì)每個(gè)測(cè)試點(diǎn)，結(jié)合工藝窗口進(jìn)行判定后，再比對(duì)其它測(cè)試點(diǎn)的zui大差異值，并依次進(jìn)行排序，PWI值越低，表示工藝越中心。（詳見PWI詳細(xì)介紹）

KIC Start2-基本型測(cè)試儀

KIC上市新的KICStart2系列儀器，這個(gè)全新的KIC Start2 用于替代一代產(chǎn)品，體積更小，更結(jié)實(shí)，同時(shí)具備標(biāo)準(zhǔn)USB下載接口，以及全新的軟件加密及升級(jí)功能。
功能與用途:
硬件部份:

• · KICStart2手工測(cè)試儀器

• · 標(biāo)配涵蓋:

• 1、 智能手動(dòng)溫度優(yōu)化(Manual prediction)
  2、無鉛合成金屬隔熱套

• · 軟件狗加密

• · 標(biāo)準(zhǔn)USB2.0下載接口

軟件功能:

• · 全新 KICStart2 軟件平臺(tái)

• · 標(biāo)配曲線合并功能，采用自動(dòng)化比較技術(shù)，避免人工比對(duì)存在疏漏

• · 標(biāo)配工藝曲線優(yōu)化，手工預(yù)測(cè)溫度的設(shè)置功能(Manual Navigator Key)

工藝曲線優(yōu)化模式：(無須實(shí)際測(cè)試)
1、手工改變?cè)O(shè)置溫度，預(yù)測(cè)工藝參數(shù)變化結(jié)果
2、手工改變鏈速，預(yù)測(cè)工藝參數(shù)變化結(jié)果