Xevo G2-XS Tof WATERS Xevo G2-XS Tof飛行時間質(zhì)譜儀

同時進行定性和定量分析

Xevo® G2-S Tof專門為需要定性和定量分析復雜與具挑戰(zhàn)性樣品的科學家而設(shè)計。

?StepWave™的離軸離子源技術(shù)提供了優(yōu)異的持久靈敏度

?QuanTof™技術(shù)同時提供了優(yōu)越的與UPLC®-兼容的質(zhì)譜分辨率，基質(zhì)耐受動態(tài)范圍、定量分析性能、質(zhì)譜準確性和分析速度

?UPLC/MSE數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)在一次分析中可以獲得復雜樣本的分析

?通用的離子源結(jié)構(gòu)提供了廣泛的接口能力，可以用于大量的應用領(lǐng)域

?IntelliStart™保證了獲得可重現(xiàn)結(jié)果所需的系統(tǒng)性能和可用性

?簡便易行升級至QTof從而獲取準確MS/MS數(shù)據(jù)，使您的投資物有所值

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StepWave離子光學技術(shù)

StepWave離子光學技術(shù)在zui大程度降低常規(guī)維護需要的同時，大大提高了儀器的靈敏度。它以可能zui大的效率從離子源傳輸離子，且主動地過濾掉不必要的中性污染。MS信號明顯增加，由于儀器中關(guān)鍵組件可以長期保持潔凈，因此您得出的定量分析結(jié)果更具有重現(xiàn)性，您的實驗室工作效率會更高。

QuanTof 技術(shù)

QuanTof創(chuàng)新性的幾何形狀與離子檢測系統(tǒng)相結(jié)合，增強了設(shè)備的靈敏度，而且提供了優(yōu)越的與UPLC-兼容的質(zhì)譜分辨率，基質(zhì)耐受動態(tài)范圍、定量分析性能、質(zhì)量精度和分析速度。

可以在不影響MS性能的情況下，識別并定量分析出復雜樣本基質(zhì)中窄的色譜峰，使Xevo G2-S Tof與超LC®無縫對接，從而為解決您復雜的科學難題提供一種有力的分析系統(tǒng)。

UPLC/MSE

UPLC/MSE 是一種簡單且具有的數(shù)據(jù)采集方法，它可以在一次分析過程中，地分析類復雜樣本。它可以快速采集質(zhì)量數(shù)的前體離子和碎片離子信息，同時獲得樣本中各種可檢測物質(zhì)的準確定量信息。

通用的離子源結(jié)構(gòu)

沃特世的通用離子源結(jié)構(gòu)，可以使您應用目前廣泛的離子化技術(shù)，同時也不失體驗未來創(chuàng)新的機會。

所有離子源均可以快速更換，幾分鐘內(nèi)即可以使用。

IntelliStart 技術(shù)

Xevo G2-S Tof以采用了IntelliStart™技術(shù)為特點，它是一種可以自動完成常規(guī)任務(wù)，保證可重現(xiàn)的UPLC/MS數(shù)據(jù)具有zui高質(zhì)量的直觀界面。

IntelliStart可以自動完成以下功能：

?MS分辨率和校準檢查

?方便設(shè)置多種試驗

?預約LC/MS系統(tǒng)檢測

?連續(xù)系統(tǒng)監(jiān)控