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NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀

北京億誠恒達科技有限公司
會員指數(shù): 企業(yè)認證:  

價格:電議

所在地:北京

型號:

更新時間:2020-05-15

瀏覽次數(shù):1368

公司地址:北京市海淀區(qū)西三旗橋東新龍大廈B座518室

李小姐(女士)  

產(chǎn)品簡介

簡介:美國AEP Technology公司主要從事半導體檢測設(shè)備, MEMS檢測設(shè)備, 光學檢測設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測量解決方案行業(yè)的供應者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣,歷經(jīng)近十年努力,已為30多個提供NanoMap系列三維表面形貌測量系統(tǒng)。NanoMap-LS三維表

公司簡介

      億誠恒達科技有限公司,是一家專門代理經(jīng)銷進口科學儀器、測試測量設(shè)備的高科技企業(yè),所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領(lǐng)域。公司本著“誠信、務實、品質(zhì)、服務”的經(jīng)營理念,已經(jīng)為國內(nèi)許多用戶提供了先進的儀器設(shè)備,專業(yè)的技術(shù)咨詢和完善的售后服務。

公司主要代理產(chǎn)品有:

公司主營:氣體純化器,儲氫材料PCT測試儀,電化學工作站,恒電位儀,多通道電化學工作站,旋轉(zhuǎn)圓盤環(huán)盤電極RDE,石英晶體微天平QCM,掃描探針顯微鏡,原子力顯微鏡AFM,CMP化學機械拋光設(shè)備,摩擦磨損試驗機,三維形貌儀,輪廓儀,臺階儀,疲勞試驗機,材料試驗機,扭轉(zhuǎn)彎曲試驗機,扭矩測試儀等。


北京億誠恒達科技有限公司,位于北京海淀中關(guān)村核心區(qū)域,是一家專門代理經(jīng)銷進口科學儀器、測試測量設(shè)備的高科技企業(yè),所經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領(lǐng)域。公司本著“誠信、務實、品質(zhì)、服務”的經(jīng)營理念,竭誠為國內(nèi)廣大用戶提供先進的儀器設(shè)備,專業(yè)的技術(shù)咨詢和完善的售后服務。


公司擁有國際貿(mào)易和商務物流管理的專業(yè)人才,可提供代理進出口、代辦免稅手續(xù)、代辦報關(guān)、運輸、保險、商檢等服務。也可提供國際貿(mào)易等方面商務咨詢服務。


北京億誠恒達科技有限公司愿與客戶攜手,共創(chuàng)美好未來!

材料試驗機,疲勞試驗機,沖擊試驗機,電化學工作站,恒電位/恒電流儀,石英晶體微天平,三維形貌儀,輪廓儀,原子力顯微鏡(AFM),掃描探針顯微鏡(SPM),摩擦磨損試驗機,瓶蓋扭矩測量儀,軸承扭矩測量儀,高頻疲勞試驗機。



展開

產(chǎn)品說明

簡介:
美國AEP Technology公司主要從事半導體檢測設(shè)備, MEMS檢測設(shè)備, 光學檢測設(shè)備的生產(chǎn)制造,是表面測量解決方案行業(yè)的供應者,專門致力于材料表面形貌測量與檢測。公司始終致力于微觀表面“三維”檢測技術(shù)和設(shè)備的研發(fā)及推廣,歷經(jīng)近十年努力,已為30多個提供NanoMap系列三維表面形貌測量系統(tǒng)。
NanoMap-LS三維表面形貌/輪廓儀主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將臺階儀帶入了另一個測量的新時代。
特點:
1.     全自動軟件控制
2.     0.1到100 mg接觸力
3.     垂直分辨率可達0.1nm 。
4.     每次掃描少1 0 0點,多可達1 5 0 ,0 0 0數(shù)據(jù)點
5.     一體化彩色攝像機在掃描同時可直接觀察樣品
6.     簡單一鍵操作與用戶友好的操作界面

應用領(lǐng)域:
測量表面可以覆蓋多種材料表面:金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,對于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品zui低的。

主要技術(shù)參數(shù)
垂直分辨率: 0.1nm
重復性: 0.54 nm(1Sigema @1um)
垂直范圍: 524um(1mm可選)
掃描范圍: 150mm x 150mm

NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀
NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀
NANOMAP-LS 探針式三維形貌儀







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