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價(jià)格:電議
所在地:廣東 深圳市
型號:MICURA
更新時(shí)間:2021-06-24
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公司地址:深圳市寶安區(qū)新安街道82區(qū)新安六路華豐科技園A、B座A座5樓523號
藝橋(先生)
藝橋科技(香港)有限公司(簡稱藝橋科技),成立于2017年,是一家提供優(yōu)質(zhì)進(jìn)口檢測設(shè)備的供應(yīng)商,擁有專業(yè)、出色的工程師團(tuán)隊(duì),配備了完善的廠房倉庫。客戶群體集中在LED封裝行業(yè),業(yè)務(wù)主要包括LED LIGHTING BAR生產(chǎn)線檢測解決方案、半導(dǎo)體行業(yè)DB&WB檢測設(shè)備及解決方案、實(shí)驗(yàn)室相關(guān)檢測設(shè)備、新能源檢測、光學(xué)玻璃檢查解決方案等。
2019年起,與TTVISION合作研發(fā)自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備,在研發(fā)項(xiàng)目技術(shù)領(lǐng)域取得豐碩成果。同時(shí)公司戰(zhàn)略性調(diào)整,開發(fā)客戶以鋰電池行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)、高校與研究單位為主,半年間開發(fā)有廣東氣派、華燦光電、利亞德集團(tuán)、德賽電池、藍(lán)微科技等一批高質(zhì)量客戶。
公司擁有一批多年工作經(jīng)驗(yàn)的工作者,富有進(jìn)取心和敬業(yè)精神,不僅能為客戶提供高質(zhì)量的產(chǎn)品,并能為客戶提供優(yōu)質(zhì)、高效的售后解決方案。以專業(yè)的服務(wù)和優(yōu)良的品質(zhì),深受廣大用戶的好評。
香港藝橋現(xiàn)已經(jīng)成為創(chuàng)維、TCL金能、TCL多媒體、華燦光電、利亞德、氣派科技、瑞豐光電、國星光電、兆馳股份、冠捷科技、木林森股份、木林森電子、木林森光電(吉安、新余)、鴻利智匯、聚飛光電、穗晶光電、晶科電子、虹源光電、帝晶光電等多家企業(yè)的長期穩(wěn)定供應(yīng)商,且大部分為上市公司,業(yè)內(nèi)享有良好的商業(yè)信譽(yù)。
德國蔡司zeiss橋式三坐標(biāo)測量機(jī)
型號:MICURA
MICURA
小型工件的
MICURA樹立了緊湊型測量機(jī)的標(biāo)桿。盡管尺寸較小,但在測量精度方面毫不遜色。MICURA配備蔡司VAST XT gold掃描探頭與navigator技術(shù)。
小型化與
工業(yè)生產(chǎn)中的零部件日趨小型化,同時(shí)對測量精度的要求也在不斷提高,MICURA正是針對這一全新需求定制的解決方案。MICURA采用蔡司VAST XT gold掃描探頭與navigator技術(shù), 可在主動(dòng)式掃描時(shí)獲得微米級的測量精度。它尤其適于測量用于光學(xué)和電子產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)復(fù)雜的小型工件。盡管采用緊湊型設(shè)計(jì),系統(tǒng)卻具備500 x 500 x 500毫米的測量能力——性能遠(yuǎn)超同類產(chǎn)品。
的高速掃描
蔡司VAST XT gold探頭具有高速掃描功能,除可在短時(shí)間測定幾何特征外,還可測量及評定形狀誤差如圓度、平面度等特性。探針zui小直徑僅為0.3毫米。
速掃描:VAST navigator
PRISMO navigator可速獲取zui為的測量結(jié)果。navigator技術(shù)是為蔡司所研發(fā)的高速掃描技術(shù)。智能優(yōu)化參數(shù)設(shè)定以確保測量的度。得益于切線逼近掃描、螺旋掃描和測針快速動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)等功能,可進(jìn)一步縮短測量時(shí)間。
計(jì)算機(jī)輔助精度修正(CAA)
PRISMO navigator可實(shí)現(xiàn)對測量機(jī)動(dòng)態(tài)誤差的有效補(bǔ)償,從而確保即便于高速掃描過程中仍可獲得理想的測量精度。
操作與人體工學(xué)
全新設(shè)計(jì)控制面板,配備LCD顯示屏及雙手柄控制面板,使用方便快捷。
成熟的設(shè)計(jì)
工業(yè)陶瓷導(dǎo)軌和大型軸承座可將外界環(huán)境的影響降至zui低
四面環(huán)抱的蔡司氣浮軸承確保更好的穩(wěn)定性和測量精度
蔡司MICURA同時(shí)配備工件溫度傳感器
可實(shí)現(xiàn)測量力的控制,適用于敏感材料
控制柜、軟件、探頭和其他組件均來自蔡司,彼此完 美適配
典型應(yīng)用
軸承類等高機(jī)加工零部件
公差要求小的活塞和軸類部件
人工關(guān)節(jié)
齒輪
光學(xué)元件
長度測量誤差E0
自0.7 + L/400 μm起
測量范圍
X Y Z
5/5/5 500 500 500