ZEM18 臺(tái)式掃描電子顯微鏡

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng)）

北京儀光科技，專業(yè)的顯微形貌解決方案提供商！ 北京儀光科技有限公司是一家專門從事各類型光學(xué)顯微鏡、三維表面輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、材料樣品制備、科研相機(jī)等實(shí)驗(yàn)室科研儀器銷售及服務(wù)的綜合供應(yīng)商，公司致力于為科研、工業(yè)、生命科學(xué)等用戶提供專業(yè)的顯微形貌分析解決方案。主營(yíng)產(chǎn)品包括各品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、測(cè)量顯微鏡、超景深顯微鏡、三維共聚焦顯微鏡、生物顯微鏡、影像測(cè)量?jī)x、三維光學(xué)輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、熱臺(tái)顯微分析系統(tǒng)、清潔度分析儀、科研相機(jī)、高速攝像機(jī)、金相及巖相制樣設(shè)備等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測(cè)等全套分析檢測(cè)解決方案。此外，公司也提供科學(xué)儀器的周邊配套裝置，比如冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光臺(tái)、攝像頭、光學(xué)平臺(tái)等產(chǎn)品。 我司同時(shí)提供專業(yè)的材料分析應(yīng)用解決方案，包括全套顯微清潔度分析系統(tǒng)、全自動(dòng)鑄件孔隙率分析系統(tǒng)、全自動(dòng)夾雜物分析系統(tǒng)、全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)、汽車焊縫專業(yè)測(cè)量系統(tǒng)、自動(dòng)型晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、自動(dòng)煤巖顯微分析系統(tǒng)、偏光冷熱臺(tái)顯微分析系統(tǒng)、偏光陰極發(fā)光臺(tái)顯微分析系統(tǒng)、偏光石棉檢測(cè)系統(tǒng)、瀝青中間相偏光觀察系統(tǒng)等專業(yè)的應(yīng)用解決方案。 北京儀光科技有限公司是西班牙Sensofar、美國(guó)Zygo、丹麥司特爾（Struers）、德國(guó)徠卡（Leica）、德國(guó)蔡司（Zeiss）、日本奧林巴斯(Olympus)、日本尼康(Nikon)、美國(guó)RMC、德國(guó)PCO等著名儀器公司的特許經(jīng)銷商。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、軍工、船舶、汽車、工業(yè)材料、生命科學(xué)、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測(cè)分析等各個(gè)行業(yè)。我們致力于以開(kāi)放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為客戶提供完善的解決方案！ 企業(yè)理念：專業(yè)成就品質(zhì)，服務(wù)贏得信任！ Focus on microanalysis !

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。

產(chǎn)品介紹

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng)）

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品參數(shù)

環(huán)境要求：AC 220V，50Hz，1kW，無(wú)需減震臺(tái)

加速電壓：3kV~18kV連續(xù)可調(diào)，1kV步進(jìn)

電子槍：預(yù)對(duì)中鎢燈絲，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)物鏡光闌

放大倍數(shù)：500 --150000倍

探測(cè)器：二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀

樣品臺(tái)行程：XY 兩軸電動(dòng) 行程：30 mm×30 mm

樣品尺寸：Φ50×35（H）mm

工作距離：5-35mm

真空模式

高真空模式：抽真空時(shí)間小于90s 

低真空模式：選配，低真空1-100Pa自動(dòng)控制

成像模式

視頻模式：512x 512像素，無(wú)需小窗口掃描；

快速模式：掃描時(shí)間小于3秒，512 x 512像素；

慢掃模式：掃描時(shí)間小于40秒，2048 × 2048像素；

圖像格式：BMP, TIFF,JPEG,PNG

導(dǎo)航功能：光學(xué)CCD導(dǎo)航

自動(dòng)功能：一鍵自動(dòng)配置亮度、對(duì)比度、聚焦

尺寸：主機(jī)283×553×505 mm  機(jī)械泵340×160×140 mm

拓展功能：兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng)）

產(chǎn)品特色

操作簡(jiǎn)便： 僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌

成像快速： 抽真空時(shí)間小于90s，

顯示流暢： 信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)

信號(hào)多樣： 二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀等多種探測(cè)器。（SE+BSE模式：同時(shí)采集，任意疊加）

性能突出：加速電壓連續(xù)可調(diào)，選配低真空模式，適應(yīng)多種類型樣品和原位測(cè)試功能

體積小巧：無(wú)需特裝設(shè)備間和額外減震臺(tái)，常規(guī)市電即插即用

原位拓展：豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等）

售后無(wú)憂： 國(guó)內(nèi)自主研發(fā)，提供完備的高性價(jià)比售后服務(wù)。廠家在北京、上海、安徽、東莞等多個(gè)辦事處提供樣機(jī)demo服務(wù)。

產(chǎn)品附件

(1)拉伸臺(tái)

技術(shù)參數(shù)

(2)TEC冷臺(tái)

技術(shù)參數(shù)

1、溫度范圍：-60℃--50℃

2、功率：~45W

3、控溫精度：±0.01℃

4、高精度溫控儀，搭配相應(yīng)軟件，數(shù)據(jù)可一鍵導(dǎo)出

 

 

 

應(yīng)用案例

 

                                         原材料檢測(cè)                                                   工業(yè)檢測(cè)

 

                                      電子元器件檢測(cè)                                        其他樣檢測(cè)

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