JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。從設(shè)定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司是一家專注于科學研究及工業(yè)應用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商，我們?yōu)楦咝！⒖蒲性核?、企業(yè)等各類客戶提供全面的儀器設(shè)備解決方案。公司成立于2012年，總部設(shè)在北京，在上海、深圳、沈陽等地設(shè)有多個辦事處。 培科創(chuàng)新，與多家世界知名儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系，不斷優(yōu)化提升的公司自身營運和服務(wù)質(zhì)量，致力于向用戶提供的產(chǎn)品、zui優(yōu)化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務(wù)，承擔著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責任，服務(wù)并推動科學研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。 培科創(chuàng)新，秉承高度負責和誠信的原則展開業(yè)務(wù)，努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環(huán)境。我們了解客戶的實際需求，并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案，并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科在客戶的關(guān)注和員工們的努力中不斷進步，擁有遍布全國的營銷渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)、職業(yè)化的技術(shù)服務(wù)團隊。

JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。
從設(shè)定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

掃描電子顯微鏡JSM-IT500 InTouchScope?的特點及功能介紹：

3個關(guān)鍵點 使日常分析更迅速！更簡便！

①關(guān)鍵點1 Zeromag
從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松， 多視野連續(xù)分析的位置也很容易。

②關(guān)鍵點2 實時分析 (僅限于A/LA)
在圖像觀察過程中，進行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中， 如果給感興趣的元素加上alert ，會更容易發(fā)現(xiàn)。

③關(guān)鍵點3 數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標或者從測試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù)，一鍵就能生成報告。

關(guān)鍵點1 Zeromag ～將大視野光學CCD圖像和SEM圖像結(jié)合～                  

直到高倍率觀察的順利操作！

光學CCD圖像和SEM圖像的結(jié)合和無縫操作使工作效率大大提高

利用Zeromag能簡便自動地進行大區(qū)域觀察和EDS分析

利用Zeromag設(shè)置蒙太奇

  

蒙太奇結(jié)果 4×4 （左：背散射電子成份像 右：Ca元素面分布圖）
樣品：混凝土 加速電壓：15kV 高真空模式 拍攝區(qū)域：約4mm×3mm

利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域，有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細信息時非常有效。

關(guān)鍵點2 實時分析～SEM和EDS一體化集成～                              

利用Live Analysis功能，可在觀察窗口中進行被觀察區(qū)域的EDS分析?？梢匀菀椎卣业阶约焊信d趣的元素，還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。

①顯示存在于測試區(qū)域中的主元素。能元素并顯示“alert”。

②會顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動定性分析結(jié)果。

③一鍵點擊就可以在電鏡操作界面和詳細分析顯示界面間切換。

關(guān)鍵點3 數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW? Lab～無縫創(chuàng)建報告?                   

SMILE VIEW? Lab是能集中管理與樣品臺位置聯(lián)動的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析，生成報告等都能簡便地進行。

①顯示各個視野的名稱。

②能根據(jù)樣品名、創(chuàng)建日期和數(shù)據(jù)類型等搜索數(shù)據(jù)。

③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個視野的位置。

④會列表顯示被選區(qū)域的元素圖、譜圖等的數(shù)據(jù)和定量分析結(jié)果等。

技術(shù)參數(shù)

分辨率 高真空模式	3.0 nm (30 kV)  15.0 nm (1.0 kV)
低真空模式*1	4.0 nm (30 kV BED)
圖像倍率	×5～×300,000   （以128 mm × 96 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率）
顯示倍率	×14～×839,724   顯示器上的圖像倍率（以358 mm × 269 mm 作為顯示尺寸規(guī)定放大倍率）
電子槍	鎢燈絲 電子槍完全自動合軸
加速電壓	0.3kV～30kV
低真空壓力設(shè)定范圍※1	10～650Pa
物鏡光闌	３檔  帶有ＸＹ微調(diào)功能
自動功能	燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整，聚焦、像散、襯度/亮度調(diào)整
大樣品尺寸	200 mm直徑×75 mm高度   200 mm直徑×80 mm高度※選配件   32 mm直徑×90 mm高度 ※選配件
樣品臺	大型全對中式   X：125 mm Y：100 mm Z：80 mm   傾斜：－10～90° 旋轉(zhuǎn)：360°
圖像無縫拼接功能	標配
顯示測試位置座標	直徑203 mm
標準菜譜	有（包括EDS條件 ※2）
圖像模式	二次電子像、REF像、成份像*1、形貌像*1、陰影像*1等
獲取圖像的像素數(shù)	640x480  1,280x960    2,560x1920  5,120x3,840
OS	Microsoft®Windows®10 64bit
顯示器	23寸觸摸屏
EDS   功能*2	譜圖分析、定性分析/定量分析、線分析（水平線分析、任意方向線分析）元素面分布、電子束追蹤等
測長功能	有（兩點間距離、平行線間距離、角度、直徑等）
數(shù)據(jù)管理功能	SMILE VIEW? Lab
生成報告功能	SMILE VIEW? Lab
語言切換	可以在UI 上（日語/ 英語）
抽真空系統(tǒng)	完全自動 TMP：1   臺、RP：1臺或2臺※1

備注：Windows10 為美國微軟公司在美國及其它的注冊商標或商標

主要選配件

背散射電子檢測器（BED) ※1

低真空二次電子檢測器（LSED)能譜儀(EDS)※2

波譜儀（WDS）

電子背散射衍射檢測器(EBSD)

加載互鎖真空室（預抽室）

樣品臺導航系統(tǒng)（SNS）

樣品室觀察系統(tǒng)(CS)

操作面板

3D測量軟件操作臺

※1 為JSM-IT500LV/LA的標配功能。
※2 為JSM-IT500LV/LA的標配功能。

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