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JCM-7000 臺(tái)式掃描電子顯微鏡

北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
會(huì)員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:

價(jià)格:電議

所在地:北京

型號(hào):

更新時(shí)間:2021-06-30

瀏覽次數(shù):1454

公司地址:北京市海淀區(qū)上地信息路26號(hào)

王經(jīng)理(先生)  

產(chǎn)品簡介

JCM-7000臺(tái)式掃描電子顯微鏡是日本電子新推出的一款臺(tái)式掃描電子顯微鏡,其不僅具有大型掃描電鏡的功能,相對(duì)于大型掃描電鏡其操作簡單,維護(hù)保養(yǎng)容易,體積小巧,價(jià)格低廉,檢測(cè)速度快,從啟動(dòng)裝填樣品到測(cè)試出結(jié)果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實(shí)時(shí)能譜分析和實(shí)時(shí)3D顯示的功能,更人性化的服務(wù)于您的研究和工

公司簡介

北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司是一家專注于科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商,我們?yōu)楦咝!⒖蒲性核⑵髽I(yè)等各類客戶提供全面的儀器設(shè)備解決方案。公司成立于2012年,總部設(shè)在北京,在上海、深圳、沈陽等地設(shè)有多個(gè)辦事處。 培科創(chuàng)新,與多家世界知名儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關(guān)系,不斷優(yōu)化提升的公司自身營運(yùn)和服務(wù)質(zhì)量,致力于向用戶提供的產(chǎn)品、zui優(yōu)化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務(wù),承擔(dān)著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責(zé)任,服務(wù)并推動(dòng)科學(xué)研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。 培科創(chuàng)新,秉承高度負(fù)責(zé)和誠信的原則展開業(yè)務(wù),努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動(dòng)的健康環(huán)境。我們了解客戶的實(shí)際需求,并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案,并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科在客戶的關(guān)注和員工們的努力中不斷進(jìn)步,擁有遍布全國的營銷渠道和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)、職業(yè)化的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)。
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產(chǎn)品說明

JCM-7000臺(tái)式掃描電子顯微鏡日本電子新推出的一款臺(tái)式掃描電子顯微鏡,不僅具有大型掃描電鏡功能,相對(duì)于大型掃描電鏡操作簡單,維護(hù)保養(yǎng)容易,體積小巧,價(jià)格低廉,檢測(cè)速度快,啟動(dòng)裝填樣品到測(cè)試出結(jié)果僅需5分鐘左右。JCM-7000創(chuàng)新的加入了實(shí)時(shí)能譜分析實(shí)時(shí)3D顯示的功能,人性化的服務(wù)研究和工作

JCM-7000主要功能

在同一個(gè)視野上可以從光學(xué)圖像無縫過渡到(SEM)圖像

邊觀察邊進(jìn)行元素分析

通過自動(dòng)功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易

低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測(cè)不導(dǎo)電的樣品

高真空 (HV) 模式可以進(jìn)行高倍率詳細(xì)形貌的觀察

在同一視野上可以實(shí)時(shí)顯示3D圖像 (Live 3D)

自動(dòng)布局且可以一鍵輸出結(jié)果(SMILE VIEW TM Lab)

以下介紹幾個(gè)典型實(shí)例方便您對(duì)我們這款產(chǎn)品深入了解:

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上圖測(cè)試的樣品巖鹽,JCM-7000可以由光學(xué)成像實(shí)時(shí)自動(dòng)無縫過渡到SEM成像


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上圖測(cè)試的樣品是合金,JCM-7000通過高靈敏度探測(cè)器既可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)顯示視野范圍中的主要組成元素又能實(shí)時(shí)顯示各種元素的面分布情況。


img4

上圖測(cè)試的樣品是螺絲,JCM-7000采用高靈敏度4分割背散射電子探測(cè)器,利用實(shí)時(shí)3D功能,實(shí)現(xiàn)了四種掃描電鏡(成分、凹凸、陰影)圖像和三維圖像的采集和顯示,由圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。


img5

上圖測(cè)試的樣品不銹鋼 SUS304斷裂面JCM-7000利用高真空模式和SEM圖像觀察,可以進(jìn)行更的觀察如圖所示高真空條件下可以清晰的觀察條紋和韌窩的解理面,由此推斷斷裂成因


img6

上圖測(cè)試的樣品是玻璃,由圖可以看出透明樣品斷面光學(xué)顯微鏡下很難觀察形貌,在低真空下,相同放大倍數(shù)的SEM成像可以呈現(xiàn)清晰的表面形貌放大后可清晰的觀察細(xì)節(jié)SEM成像。


生產(chǎn)廠家相關(guān)信息:

JEOL是日本一家知名的科研儀器廠家在享有盛譽(yù)。JEOL目前面向及,生產(chǎn)銷售各型掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、X射線熒光光譜儀、核磁共振設(shè)備等,是上一家可以提供全系列電鏡解決方案的科研公司。產(chǎn)品運(yùn)用覆蓋了材料科學(xué)、生命科學(xué)等學(xué)術(shù)技術(shù)領(lǐng)域,在無機(jī)、有機(jī)化合物、金屬材料,土壤,礦產(chǎn),醫(yī)藥,精細(xì)化工,電子材料,生物樣品等的定性和定量分析鑒定上廣受推崇。在,眾多重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、科學(xué)院部門、科研所、大專院校、醫(yī)療機(jī)構(gòu)、政府機(jī)構(gòu)和企業(yè)單位都有JEOL的產(chǎn)品。


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